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通过 X 射线衍射 (XRD),可以迅速识别微粒材料、粘土和其他矿物。 它生成有关您样品晶体结构的详细信息,可以使用这些信息识别存在的矿物相。 XRD 尤其适用于识别难以用其他方法识别的细粒度相,这些方法比如有扫描电子探针/能量色散谱 (SEM/EDS) 或扫描电子探针定量评估材料 (QEMSCAN™)。

过去,XRD 通常用于确定岩石、粘土、矿石、微粒和冶金产品中的散装矿物组合。 它提供半定量分析方法,该方法用于确定存在的矿物相规格或重量比,包括样品中出现的各矿物相的微量。

现今,利用里德伯尔德(RIR 分析)量化方法和功能强大的计算机,可以获得定量的 XRD 数据。 通过现代高速检测器,可以对大量样品迅速进行数据采集,并利用整体图案聚类分析区分样品种类。

SGS 使用粉末衍射仪、现代计算机软件和大型矿物数据库识别从样品中采集的实验衍射图案。

对于标准 XRD 分析,样品制备为常规程序,而获得数据又快速又精确。 在粉碎样品上执行 XRD 分析,这是获取矿物学数据进行化学分析的方便方法。

定量的 XRD 分析

通过报告,经 XRD 分析识别的所有矿物相,并将其分组为大量 (> 30%) 、中等 (10-30%) 、少量 (2-10%) 和微量 (< 2%) 。 丰度识别和分类是以相应峰值高度和矿物晶体结构为基础的。

半定量 XRD 分析

通过报告,经 XRD 分析识别的所有矿物质分组为大量 (> 30%) 、中等 (10-30%) 、少量 (2-10%) 和微量 (< 2%) 。 此外,RIR(或里德伯尔德)XRD 分析生成的矿物质丰度(按重量比)符合全部岩石分析,并给出报告。

矿物形成

XRD 可以确定样品中存在的特定矿物相。 SGS 提供专业的形成分析,从而确定:

  • 粘土矿物学
  • 游离硅石与呼吸性硅尘

XRD 等系统仅仅是工具,高解析度矿物学才是产品。– SGS 是全球矿产行业和其他市场部门高清晰度矿物学的行业领导者,它提供所需的详细资料、产品或残留物的特性。 SGS 矿物学专家确保高质量的产品,从基本勘探到生产支持,提供重要的解释价值。