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X 射线荧光 (XRF) 光谱仪是一种经典方法,用于测定常量元素、微量元素和一些痕量元素。

采用 XRF 的优势在于其准确性、高精度、快速分析时间、将样品以固态而非液态呈现的能力,以及其多元素的特质。

硼酸锂熔样和压片是用于 X 射线荧光分析的两个行业标准样品制备技术。 硼酸锂熔样用于低原子序数的元素,压片用于高原子序数的元素。 熔样涉及使用熔剂熔化样品,然后浇注到玻璃盘中,适用于常量元素分析。 在需要测定痕量元素,或样品中硫化物矿物浓度较高的情况下,需采用专用熔样,或者也可以使用压片技术。 SGS 将帮助确定最适合您样品的方法。

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