電子マイクロプローブ & SEM

これら技術の応用は、産業アプリケーション、処理鉱物分析、鉱石化学、産業衛生、粉塵分析そして鉱物探査に及びます。

電子マイクロプローブ計画には、以下のものが含まれます:

• 鉱物あるいは微粒子の相の特定 
• 化学化合物情報の生成 
• 主成分で代用される微量元素の特定(例: 閃亜鉛鉱における鉄、磁硫鉄鉱におけるニッケル) 
• 複数の化合物のスペシエーション（例: 金と硫化塩のスペシエーション）。
• 金属バランスをサポートする化合物の生データの提供
• 組織および化合物の面で複雑な基質の中での金属分布を表示するX線マップの生成（高倍率）

電子顕微鏡スキャン(SEM)では迅速な鉱物査定を提供し、鉱物分析の主要傾向を特定します。 画像は電子マイクロプローブを使って、X線マップとして得られます。 そして画像は、画像分析ソフトを用いて処理されます。 情報は、鉱物の量、鉱物粒子のサイズ、単体分離および化合に関して作成されます。

SEMは、以下のものの特定目的で使用可能です:

• 鉱物の合成および化合の精密な詳細
• 鉱石およびそれらを濃縮した金および白金族元素。
• 非常に微粉化された物質（軟泥状の一部、微細沈殿物）
• 処理工程残渣物および合成複物質。
• 非結晶質および生物学的物質。

電子マイクロプローブおよびSEMといった機材は、道具でしかありません - 高解像度鉱物分析こそが製品なのです。 SGSは、高解像度鉱物分析における業界のリーダーで、鉱石、製品および残余物の特徴の詳細を知る必要のある世界の鉱業などの業界を対象としております。 SGSの鉱山分析の専門家は良質の製品を保証し、草の根の探査から製品サポートに至るまで、重要な解釈面での価値を提供しています。